• <td id="kck8y"></td>
  • <source id="kck8y"></source>
  • 撥號0755-23727585
    • XRF-D7鍍層厚度分析儀

      X熒光光譜鍍層測厚儀,型號:XRF-D7,標配美國進口新一代SI-P探測儀,測試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D7
      更新日期:2015-09-21
      119000
    • XRF-D8鍍層厚度分析儀

      X熒光光譜鍍層測厚儀,型號:XRF-D8,標配美國進口SDD探測器,測試范圍:鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D8
      更新日期:2015-09-21
      169000
    • XRF-9500鍍層厚度分析儀

      目前常用的鍍層檢測方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產品或產品表面,是屬于有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技生產的鍍層檢測儀使用的就是X射線熒光光譜法這一先進的檢測技術。

      型號:XRF-9500
      更新日期:2015-11-07
      129000
    • XRF-D7金屬鍍層厚度分析儀

      金屬鍍層厚度分析儀標配美國進口新一代SI-P探測儀,測試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D7
      更新日期:2016-11-09
      面議
    共 4 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 

    聯系我們

    地址:深圳市寶安區新橋街道上南東路恒昌榮高新產業園4棟9A 傳真:86-0755-23727585 Email:zg05@163.com
    24小時在線客服,為您服務!

    版權所有 © 2021 深圳市策譜科技有限公司 備案號:粵ICP備15026015號 技術支持:化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap
    深圳市策譜科技有限公司是專業的金屬鍍層分析儀廠家,歡迎來電來涵洽談交流!

    在線咨詢
    QQ客服
    QQ:35635742
    電話咨詢
    18002584586
    關注微信
    高清一区二区三区日本-青青青国产在线观看手机免费-亚洲成年人网站